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2020/07/29
当社は、2020年7月1日（水）からオンラインで開催されている「インテル AI Park」に出展しておりますが、当イベントの中で開催されるウェビナーに登壇いたします。 「外観検査におけるデータ整理からモデル運用までの課題を解決」と題しまして、共同出展社である岡谷エレクトロニクス社と共に、外観検査でよくある課題とその最適解についてご紹介します。
【セミナー概要】 外観検査におけるデータ整理からモデル運用までの課題を解決
【参考リンク】